漏磁法测量导磁材料的厚度及缺陷

左建勇; 颜国正; 丁国清; 付西光; 张云伟

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漏磁法测量导磁材料的厚度及缺陷

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阐述了电磁式漏磁通法检测导磁材料厚度及缺陷的原理 ,推导了厚度测量的理论依据 .基于该原理设计了传感器 ,建立了试验平台 ,并对影响传感器特性的单一因素进行了试验与分析 .结果表明 :采用聚磁件 ,减小提高距离 ,增加线圈匝数和励磁电流 ,减小传感器列间隙 ,减少磁化时间均可提高传感器分辨率 ;环境温度对测量结果影响可以忽略 ;对缺陷只能作定性检测 ;被测对象的材质对测量结果影响较大。

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来源
《上海交通大学学报》 |2004年第7期|1048-1051|共4页
作者
左建勇; 颜国正; 丁国清; 付西光; 张云伟;
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作者单位

上海交通大学电子信息学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类金属的分析试验（金属材料试验）;
关键词
漏磁通法; 导磁材料; 厚度; 缺陷;

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