基于延时链的高精度SRAM时序参数测量电路

姜彬; 张敏敏; 王琴; 蒋剑飞; 毛志刚

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基于延时链的高精度SRAM时序参数测量电路

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本文提出并实现了一种用于测量SRAM时序参数的延时链电路,在SMIC 130nm工艺下精度可以达到4.9ps.该延时链电路包括可调链路和固定链路,可调链路由可编程粗调单元和精调单元组成,固定链路由固定单元组成.并将待测SRAM和测量电路集成入SOC系统中,从而实现SRAM的建立、保持和读写时间切换测量的功能.

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来源
《微电子学与计算机》 |2017年第6期|18-20|共4页
作者
姜彬; 张敏敏; 王琴; 蒋剑飞; 毛志刚;
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作者单位

上海交通大学电子信息与电气工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
延时链; SRAM时序参数; SOC;

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