Cr∶KTiOPO_4晶体缺陷的研究

胡秀琴; 官文栎; 牟其善; 刘希玲; 马长勤; 王绪宁

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首次报道了利用光学显微法和同步辐射白光X射线形貌术对Cr∶KTP晶体缺陷的研究结果。光学显微法采用热磷酸作为腐蚀剂 ,用Opton大型显微镜反射法观察 ,观测到 (10 0 )面和 (0 2 1)面的位错蚀坑以及 (0 2 1)面的小角度晶界。用同步辐射白光X射线形貌术作出 (0 0 1)面、(0 10 )面和(10 0 )面形貌图 ,从图中可明显观察到生长层、扇形界及位错线。由此得出 ,Cr∶KTP晶体的主要缺陷是位错、生长扇形界、生长层等。

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来源
《人工晶体学报》 |2000年第1期|69-72|共4页
作者
胡秀琴; 官文栎; 牟其善; 刘希玲; 马长勤; 王绪宁;
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作者单位

山东教育学院;

山东大学化学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TQ131.13;O771;
关键词
形貌; 非线性光学晶体; 缺陷; 掺铬; 磷酸钛氧钾晶体;

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