基于扫描链的FPGA可编程逻辑模块测试

周发标; 杨海钢; 秋小强; 李凡阳; 王飞

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基于扫描链的FPGA可编程逻辑模块测试

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随着FPGA规模的不断增大和结构的日益复杂,FPGA的测试也变得越来越困难.由此提出了一种可配置的FPGA芯核扫描链设计,并讨论了基于扫描链的可编程逻辑模块(Configuration Logic Blocks CLB)测试.提出的扫描设计可以通过配置调整扫描链的构成,从而能够处理多个寄存器故障,且在有寄存器故障发生时,重新配置后能继续用于芯片的测试.基于扫描链的CLB测试,以扫描链中的寄存器作为CLB测试的可控制点和可观测点,降低了对连线资源的需求,可以对所有的CLB并行测试,在故障测试的过程中实现故障CLB的定位,与其它方法相比,所需配置次数减少50%以上.

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来源
《微电子学与计算机》 |2012年第2期|48-53|共6页
作者
周发标; 杨海钢; 秋小强; 李凡阳; 王飞;
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作者单位

中国科学院电子学研究所可编程芯片与系统研究室;

中国科学院研究生院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计;
关键词
FPGA; CLB; 故障测试; 测试配置;

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