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何晓明; 赵广军; 曾雄辉; 介明印; 周圣明; 徐军;
中国科学院上海光学机密机械研究所;
Ce:YAG; 温度梯度法; 无机闪烁晶体; 宏观缺陷; 提拉法; 硅光二极管;
机译:YAG的光学性质:Ce和GGG:Ce用高流量质子束照射的闪烁晶体
机译:通过温度梯度技术(TGT)生长大型Ce:Y_3Al_50_(12)(Ce:YAG)闪烁晶体
机译:陶瓷YAG(CE),陀螺(CE)和YAG(CE,ND)闪烁体的内在分辨率
机译:通过缺陷工程提高铈掺杂石榴石晶体的闪烁性能
机译:用脉冲同步加速器X射线测量YAG:Ce3 +闪烁体中的余辉
机译:用硅光电倍增管研究YaG:Ce闪烁光纤的性质
机译:半导体中的晶体缺陷观察的样品生产方式和晶体缺陷观察方式无效
机译:用于观察半导体单晶的晶体缺陷的样品的制备和观察晶体缺陷的方法
机译:晶体缺陷位置指定方法,晶体缺陷观察样品制备方法和晶体缺陷评估方法
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