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李林; 徐宇; 卢凌云; 贾海涛; 蔡刚; 李悦; 杨海钢;
中国科学院电子学研究所;
中国科学院大学;
SRAM型FPGA; 单粒子翻转(SEU)模拟; 部分重构;
机译:使用故障注入特性针对单事件翻转表征基于RISC-V SRAM的FPGA实现
机译:在标称电压下工作的45nm和28nm大容量基于CMOS SRAM的FPGA中电子引起的单事件翻转
机译:基于GEANT的SRAM FPGA中单事件翻转的模型,用于探测器电子
机译:基于提高的单事件翻转敏感性的基于SRAM的FPGA设计中的容错实现
机译:SRAM的体系结构设计,具有片上错误检测和针对单事件翻转的纠正功能。
机译:使用基于SRAM的FPGA进行功率感知的高性能无线传感器网络
机译:基于Xilinx SRAM的FPGA的快速单事件翻转仿真的故障注入方法和基础设施
机译:基于单事件翻转发生率的基于sRam的FpGa设计中的容错实现
机译:具有高电阻率栅极结构的FPGA的SRAM单元中的单事件翻转
机译:带有漏栅晶体管的FPGA中SRAM单元中的单事件翻转
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