一种面向多核DSP芯片的低功耗验证方法

孙健; 时鹏飞; 冯春阳; 蒙玲; 张辉

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一种面向多核DSP芯片的低功耗验证方法

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随着芯片设计进入纳米时代,芯片的规模和工作频率不断提高,尤其在工艺发展到65nm及以下时,芯片的功耗已经成为继面积和性能之后的主要影响因素之一.面对低功耗设计技术要求的不断增加,对面向低功耗设计的仿真验证也提出了更高的要求.对此全面系统地介绍了低功耗设计的相关背景、原理和不同层次的优化技术,通过对一款多核DSP芯片的低功耗验证,针对低功耗设计的各种策略,构建了基于SystemVerilog的仿真验证环境,实现了一种高效可行的低功耗仿真验证方法.

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来源
《微电子学与计算机》 |2015年第12期|116-121|共7页
作者
孙健; 时鹏飞; 冯春阳; 蒙玲; 张辉;
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作者单位

西安微电子技术研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类微电子学、集成电路（IC）;
关键词
多核DSP; 低功耗; 电源域; 仿真验证;

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