多攻击线引起的串扰时延故障的TPG

颜学龙; 梁晓琳; 尚玉玲

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多攻击线引起的串扰时延故障的TPG

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探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回退和回溯等主要特色,提高了测试生成算法的效率.实验结果表明,沿着任何临界通路传播的受害线相耦合的攻击线被适当地激活,并且可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试矢量生成.

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来源
《微电子学与计算机》 |2008年第11期|153-156|共4页
作者
颜学龙; 梁晓琳; 尚玉玲;
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作者单位

桂林电子科技大学电子工程学院;

广西桂林541004;

西安电子科技大学电路CAD研究所;

陕西西安710071;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类设计与性能分析;
关键词
时延故障; 多攻击线; 自动测试矢量生成; FAN算法;

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