基于ARM的二次直流电源参数测试系统设计

张志文; 王文举

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基于ARM的二次直流电源参数测试系统设计

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针对目前二次直流电源技术指标检测精度差、效率低的问题,设计了二次直流电源参数测试系统。系统利用电子负载实现二次电源负载的连续可调,采用LabWindows/CVI软件开发平台完成上位机程序开发,利用ARM7微处理器实现信号采集、处理及对电子负载的控制,其处理结果通过上位机显示、存储。通过对实验结果进行分析,表明该系统能够实现对二次电源技术参数电压偏差、负载稳定度、电压稳定度、效率、瞬态响应及纹波系数的自动测试,实际测量结果满足设计要求,极大地提高了测试工作的效率、精确度及自动化程度。

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来源
《国外电子测量技术》 |2014年第11期|50-55|共6页
作者
张志文; 王文举;
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作者单位

西安工业大学电子信息工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试技术及设备;
关键词
LPC2138; 负载稳定度; 瞬态响应; 纹波系数; LabWindows/CVI;

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