深亚微米SOC高压缩率EDT设计

吴赛; 薛耀国; 王豪才

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深亚微米SOC高压缩率EDT设计

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EDT(embeddeddeterministictest)是目前最有效的针对大规模片上系统的嵌入式测试方法,与常规基于ATPG的DFT(DesignForTestability)技术相比较,可以在保持相同缺陷覆盖率的情况下,大幅度降低测试成本,缩短测试时间,EDT的关键技术是解压缩器的算法设计,本文研究基于环形发生器的解压缩器设计,它不会对系统的逻辑核进行任何改动,如插入新的测试点或带来新的逻辑不确定态,可以获得40倍以上的压缩率,而且全部设计是基于标准的扫描/ATPG技术,可以非常方便的在SOC(systemonchip)设计环境中实现。在最后部分,我们研究了采用环形发生器解压缩器,在不同容量的SOC系统的EDT设计结果。

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来源
《微电子学与计算机》 |2006年第3期|139-142|共4页
作者
吴赛; 薛耀国; 王豪才;
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作者单位

电子科技大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
微电子技术; 嵌入式测试; 研究与设计; 测试矢量压缩;

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