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WSI 测试技术——圆片规模集成技术介绍(四)

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本文讨论了WSI系统的测试技术,着重在WSI系统特有的自测试方法,包括电路元件及开关阵列的测试方法.

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来源
《微电子学与计算机》 |1991年第10期|45-48|共5页
作者
任文杰; 沈绪榜;
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作者单位

航空航天部骊山微电子学研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
WSI; 测试; 元件; 开关阵列;

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