测试基准原理:改进模拟的若干技巧

何凤艳; 樊桂花

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今天,IC设计者面对着一个很大的挑战,即怎样模拟具有上千种特性同时又有上百种功能模式的复杂的百万门电路的设计。本文叙述了用于开发VEGA芯片和数字增强型无绳通讯(DECT)基带处理器的方法。这个方法适用于所有使用高级语言(VHDL或Verilog)的开发,并且在设计再利用这个非常敏感的领域中具有重要意义。

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来源
《国外电子测量技术》 |1999年第4期|17-17|共2页
作者
何凤艳; 樊桂花;
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正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
测试基准; 测试组件; 模拟技术; IC;

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