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In掺杂对化学共沉淀法合成的SnO_2粉体Zeta电位的影响(英文)

         

摘要

以四氯化锡、三氯化铟和氨水为原料,采用化学共沉淀法制备了In掺杂SnO2粉体。实验采用XRD和Zeta电位分析仪对In掺杂SnO2粉体的物化性能进行了研究。结果表明:当In掺杂浓度为2 mol%时,掺杂SnO2粉体具有较低的Zeta电位。相对于纯SnO2粉体,In掺杂改变了SnO2的晶胞参数并增大了其晶胞体积。

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