带有全息滤光片的激光共焦系统用于基因芯片的检测

朱天淳; 王策; 吴建宏; 冯秀舟; 唐敏学; 陈林森

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带有全息滤光片的激光共焦系统用于基因芯片的检测

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提出了一个激光共焦扫描系统 ,对其应用于基因芯片的检测进行了实验研究。系统中用本实验室研制的全息滤光片代替通常所用的昂贵的窄带干涉滤光片和二色镜 ,检测得到的信号强度是背景信号的数十倍 ,是背景信号波动的数百倍 ,灵敏度达 2 .0× 10 - 2 2 mol/μm2 。通过扫描采样和图像重建 ,能给出荧光强度的二维图像信息 ,清晰地得出了芯片上的阳性导向点及一些阳性点。本文研究的结果表明 ,将全息滤光片应用于共焦系统对低密度芯片进行检测。

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来源
《激光杂志》 |2003年第6期|42-44|共3页
作者
朱天淳; 王策; 吴建宏; 冯秀舟; 唐敏学; 陈林森;
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作者单位

苏州大学物理科学与技术学院;

苏州大学信息光学工程研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类基因工程（遗传工程）;激光的应用;
关键词
全息滤光片; 激光共焦扫描系统; 基因芯片检测; 荧光信号; 静态测试;

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