La_(0.67-x)Sm_xSr_(0.33)MnO_3(0.40≤x≤0.60)体系的TCR研究

郭焕银; 蔡之让; 刘宁; 童伟

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通过测量La0 .67-xSmxSr0 .33MnO3(x =0 .4 0 ,0 .5 0 ,0 .6 0 )体系的M～T曲线和ρ～T曲线,研究了La位Sm掺杂对体系电阻温度系数(TCR)的影响.实验结果表明:Sm掺杂引起的电阻率曲线急剧变化,导致大的TCR出现;TCR在x =0 .4 0时出现峰值,随Sm掺杂的增加,TCR值逐渐减小.体系出现大的TCR ,来源于Sm掺杂引起的晶格畸变和额外磁性.

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来源
《低温物理学报》 |2005年第2期|130-134|共5页
作者
郭焕银; 蔡之让; 刘宁; 童伟;
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作者单位

宿州学院物理系;

中国科学技术大学结构分析开放实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类固体物理学;系统中能量损失的降低及无功功率的补偿;
关键词
TCR; 电阻温度系数; ρ-T曲线; 电阻率曲线; 晶格畸变; 掺杂; Sm; 磁性;

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