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基于CMOS激光位移传感器的板厚测量系统

         

摘要

为了提高板材厚度参数的测量效率和精度,本系统利用CMOS激光位移传感器,通过激光三角法实现板材厚度的测量,并利用MPC08运动控制卡控制交流伺服系统实现激光位移传感器的测量定位,同时计算机对采集数据进行分析处理、显示和存储。实验表明该系统运行稳定可靠,测量效率大幅提高。

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