第二届国际自动化测试与仪器仪表学术会议（ISTAI’2008）

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由中国仪器仪表学会（CIS）主办的国际自动化测试与仪器仪表学术会议（ISTAI）是著名的多国仪器仪表学术会议暨展览会（MICONEX）的重要组成部分，隔年举办。第二届ISTAI’2008将由CIS电子测量与仪器分会、北京信息科技大学、《电子测量与仪器学报》杂忐社和北京搜宅网络技术有限公司合作承办，与第十九届多国仪器仪表展览会（MICONEX’2008）在北京同期举办，会议时间为2008年11月。

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来源
《国外电子测量技术》 |2008年第8期|80-80|共1页
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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;仪器、仪表;
关键词
仪器仪表; 自动化测试; 学术会议; 电子测量; 组成部分; 信息科技; 网络技术;

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