微流控光学透镜阵列内芯表面的电润湿特性测量

信恒杰; 杨鹏; 李菁; 赵瑞; 梁忠诚

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微流控光学透镜阵列内芯表面的电润湿特性测量

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采用特定的"导电基片/绝缘膜层"微透镜阵列内芯材料,研究其表面的介质上电润湿(EWOD)特性。利用图像采集与数据处理方法测量了0～60 V电压范围内硫酸钠水溶液液滴在"不锈钢基片/Parylene绝缘层"芯片表面的接触角变化数据,通过EWOD理论模型计算得到硫酸钠溶液的表面张力值,此值与理论值相吻合。进而计算了内芯与液滴的界面张力,这种方法可用于一般固液界面张力的测量。

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来源
《光学与光电技术》 |2009年第6期|14-17|共4页
作者
信恒杰; 杨鹏; 李菁; 赵瑞; 梁忠诚;
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作者单位

南京邮电大学微流控光学技术研究中心;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光纤通信;
关键词
微透镜阵列; 电润湿效应; 图像处理; 界面张力;

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