基于混合遗传蚁群算法的数字微流控芯片测试路径规划

汪杰君; 刘江宽; 黄喜军; 许川佩; 莫玮

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基于混合遗传蚁群算法的数字微流控芯片测试路径规划

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数字微流控芯片在生化检测领域的应用越来越广泛,为保障芯片的可靠性必须对其进行全面且高效的故障测试。随着芯片规模的扩大,故障测试问题也越来越复杂。针对数字微流控芯片的灾难性故障测试,为提高故障测试方法的时间效率,本文提出了一种基于混合遗传蚁群算法的测试路径规划方案。首先,该方案优化了芯片故障测试模型的转化过程;其次,先利用遗传算法的全局特性生成全局较优测试路径,并根据较优测试路径形成蚁群算法的初始信息素分布;最后,再利用蚁群算法搜索最优测试路径。该方案适用于离线测试和在线测试,能够兼容规则和非规则芯片。实验仿真结果表明,该方案提高了测试模型转化的效率,在获得较优测试路径的同时改善了测试算法的收敛特性,提高了测试方法的时间效率。

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来源
《电子测量与仪器学报》 |2017年第8期|1183-1191|共9页
作者
汪杰君; 刘江宽; 黄喜军; 许川佩; 莫玮;
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作者单位

桂林电子科技大学电子工程与自动化学院;

广西高校光电信息处理重点实验室;

广西自动检测技术与仪器重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类调整、测试、校验;测试和检验;
关键词
数字微流控芯片; 混合遗传蚁群算法; 测试路径规划; 时间效率;

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