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复合型威布尔分布的极大似然估计

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摘要

本文着重对半导体器件的失效分布进行了探讨。阐述了半导体器件这样的高可靠性器件的失效分布一般应是复合型威布尔(Weibull)分布的理由,进而推导出相应的方程组,并用本单位将近两年时间的加速寿命试验数据代入方程组,计算出有关的可靠性参数。

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来源
《微电子学与计算机》 |1980年第z1期|25-39|共15页
作者
刘群生; 程洁超;
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作者单位

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类概率论与数理统计;
关键词
威布尔分布; 偶然失效; 失效期; 加速寿命试验; 半导体器件; 电子设备; 失效分布; 累积失效概率; 失效率函数; 失效规律; 可靠性参数; 早期失效;

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