基于PVDF的三维纳米谐振触发测头及定位系统

李志渤; 黄强先; 史科迪; 韩彬; 余惠娟

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基于PVDF的三维纳米谐振触发测头及定位系统

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微纳米三坐标测量机(Coordinate measuring machining,CMM)是目前微纳米三维测量领域的一个研究热点,针对微纳米CMM中三维纳米测头的研究瓶颈,提出一种与现有机械接触式测头和光学非接触式测头工作原理完全不同的、可达到纳米/亚纳米量级触发分辨力的新型谐振测头。利用聚偏氟乙烯(Poly vinylidene fluoride,PVDF)薄膜的压电特性和其谐振参数对微小作用力的高敏感性,PVDF薄膜与一体式光纤微测杆测球相结合构建成了基于PVDF薄膜的三维纳米谐振触发测头。该测头在z向以轻敲模式接触,在x、y向以摩擦模式接触。经过试验验证,由该测头与三维纳米定位平台、数据处理及反馈控制系统相结合构建成的三维谐振纳米触发定位系统在x、y、z三个方向的触发分辨力都达到了亚纳米量级,分别为0.12 nm、0.10 nm、0.12 nm;三维重复性误差分别为26 nm、36 nm、10 nm。试验结果证实了新型三维谐振测头及其系统的有效性。

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来源
《机械工程学报》 |2015年第2期|1-6|共6页
作者
李志渤; 黄强先; 史科迪; 韩彬; 余惠娟;
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作者单位

合肥工业大学仪器科学与光电工程学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类其他仪器仪表;
关键词
微纳米三坐标测量机; 三维纳米测头; 聚偏氟乙烯薄膜; 三维谐振触发测头; 三维谐振触发定位系统;

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