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饶全林; 何春; 饶青; 刘辉华;
电子科技大学电子科技研究院;
存储器内建自测试; 故障模型; March算法; ROM算法; 可测试性设计;
机译:用于片上SRAM丰富的SoC和处理器的芯片堆叠式存储器
机译:Soc上的Ddr差分时钟源驱动两个Ddr存储器芯片
机译:实时信号处理系统设计从Zybo 1武装的SoC Zynq了解某事
机译:使用用于全芯片香料的阵列仿真和复杂汽车SOC的混合模式设计验证对嵌入式非易失性存储器建模
机译:SoC-FPGA中用于确保片上存储器安全的体系结构的设计和实现
机译:汽车应用FMCW雷达基带信号处理系统的设计
机译:使用测试数据压缩和内置自测试的低成本系统级芯片设计测试方法
机译:包括专用于IC微处理器芯片并在结构上与IC微处理器芯片组合的IC存储器堆栈
机译:集成的存储器芯片测试系统及其过程具有自测试电路,并记录和存储来自测试单元的错误数据
机译:用于半导体芯片中的嵌入式存储器的存储器自测试的方法和装置
机译:存储器自测试电路,包括该存储器的半导体器件和集成电路卡以及存储器自测试方法
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