紧耦合MIMO系统SVA室内衰落信道容量分析

徐荣蓉; 孙得娣

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紧耦合MIMO系统SVA室内衰落信道容量分析

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近年来MIMO系统的天线日渐趋于小型化,随之而来的紧耦合效应成为影响信道容量的主要因素。首先介绍了SVA室内衰落信道模型的建模方法,其次给出了天线间的耦合效应产生的原理,最后将耦合效应带入信道模型中,并且分析其在丰富的多径情况下不同天线间距对信道容量的影响。仿真结果显示天线耦合效应会导致信道容量减少,并且天线间距越短,耦合效应对信道容量的影响越大。

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来源
《电子测量技术》 |2017年第8期|101-103|共4页
作者
徐荣蓉; 孙得娣;
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作者单位

河海大学计算机与信息学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类文字信息处理;移动通信;
关键词
紧耦合; SVA; 室内衰落信道; 容量;

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