具有高电流处理能力的多发射极条微波功率GeSi HBT

沈珮; 张万荣; 谢红云; 金冬月; 李佳; 甘军宁

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本文对多发射极条（指）微波功率GeSiHBT进行了设计、制造和测试，并就测试结果对电流处理能力进行了研究。实验结果表明，对20—80指的GeSiHBT，发射极单位长度的电流密度I0在1．67—1．06A／cm之间变化。随发射极条数的增加，I0逐渐减少，分析认为这是由发射极条之间的热耦合引起有源区的温度非均匀分布而导致的。并且通过测试所得到的I0值，证明多指GeSiHBT可通过选择合适的发射极条数、条长和发射区面积获得更高的电流处理能力。

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来源
《功能材料与器件学报》 |2009年第1期|15-19|共5页
作者
沈珮; 张万荣; 谢红云; 金冬月; 李佳; 甘军宁;
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作者单位

北京工业大学电子信息与工程控制学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类晶体管：按作用分;
关键词
锗硅异质结双极晶体管; 热耦合效应; 电流处理能力;

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