吸收光谱测量晶体折射率的简易方法

张庆礼; 殷绍唐; 王召兵; 孙敦陆; 万松明

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吸收光谱测量晶体折射率的简易方法

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折射率是晶体的基本参数,本文提出了利用透过光谱来测量晶体折射率的简易方法,此种方法具有对样品的尺寸要求低、测量范围无限制、操作简单、易获得一定光谱范围晶体折射率的优点。用吸收光谱法和自准直法测量了Nd:GGG的折射率,二者给出的折射率测量结果符合得很好,表明用晶体透射光谱来测量折射率是一种有效的简易测量方法。

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来源
《人工晶体学报》 |2007年第1期|110-113|共4页
作者
张庆礼; 殷绍唐; 王召兵; 孙敦陆; 万松明;
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作者单位

中国科学院安徽光学精密机械研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类晶体生长;
关键词
折射率; 吸收光谱; Nd:GGG; 晶体;

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