首页> 中文期刊> 《微波学报》 >标签天线弯曲对射频识别系统性能影响的研究

标签天线弯曲对射频识别系统性能影响的研究

         

摘要

探讨了工作在微波段的无源射频识别(Radio frequencyIdentification, RFID)系统中标签天线的弧形弯曲对RFID系统性能的影响。分析比较了几种典型的半波振子标签线天线弧形弯曲的情况。通过理论分析确立标签天线的方向系数与输入阻抗为RFID系统性能的主要影响因子。弯曲振子天线特性参数由线天线分析软件NEC WinBasic数值模拟得到。分析结果表明,标签天线的弧形弯曲使得无源RFID系统的工作距离明显变短。因此,为避免此类问题有必要在RFID系统中考虑对于弯曲具有低敏感性的天线结构。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号