ATE测试中的Bandgap Trim技术研究

葛南; 陈东坡

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由于工艺的影响,带隙基准电压会有一定的偏差,在ATE测试阶段,需要利用trim技术对基准电压进行修调.通过一种EEPROM修调电路,在EEPROM中写入trim code来控制与trim电阻并联的开关,以达到修调基准电压的目的.同时采用了一种新颖的自动修调算法,只需要测试基准电压的初始值,就可以自动找出最佳的trim code,对于每个芯片来说既可以节省长达63.3ms的测试时间,又能够保证测试准确,降低了测试成本.通过对300个芯片的基准电压测试结果的分析,验证了这种算法的准确性.

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来源
《微电子学与计算机》 |2015年第4期|70-74|共6页
作者
葛南; 陈东坡;
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作者单位

上海交通大学微电子学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
带隙基准; trim; EEPROM; 自动修调;

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