不同上升时间快前沿电磁脉冲引起PN结失效、烧毁的二维数值模拟

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• 来源
  《微电子学与计算机》 |2002年第3期|17-20|共4页
• 作者

  郭红霞; 周辉; 陈雨生; 张义门; 龚仁喜; 关颖; 韩福斌; 龚建成;

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• 作者单位

  西北核技术研究所;

  西安电子科技大学;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 电子元件、组件;
• 关键词

  电磁脉冲; 漂移扩散模型; 结热二次击穿; PN结; 失效; 烧毁; 电子元器件; 二维数值模拟;