应用直流参数测量的方法来开发和监视半导体工艺过程

机译：开发了世界上第一个基于GaN的半导体剥离工艺，该工艺极大地扩展了半导体器件的范围：有望应用于可有效利用紫外线的太阳能电池，薄型发光二极管（LED）的制造等。

机译：开发出世界上第一个基于GaN的半导体剥离工艺，该工艺极大地扩展了半导体器件的使用范围，预计将应用于可有效利用紫外线，薄型发光二极管等的太阳能电池。

机译：van der Pau方法来测量高电阻半导体电神法参数的修改

机译：多元统计过程控制工具的开发与基准，半导体蚀刻工艺：测量选择的影响和数据处理对灵敏度的影响

机译：开发和应用最先进的核磁共振（NMR）光谱方法来解决与药物开发过程有关的分析难题。

机译：理化性质和工艺参数在预测片剂特性的神经网络模型开发中的应用

机译：半导体测量技术：测试结构实施文档：单片微波集成电路（mmIC）的直流参数测试结构和测试方法

机译：在操作和/或测量温度变化范围内的半导体设备的操作和恒温器过程中，测量半导体设备的热直流和/或高频参数的装置

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机译：确定操作过程测量点的方法化学/工艺过程中的过程介质特性，例如用于酸奶的生产，涉及在分类器的应用下生产参数集