设计中的内置自测试设计与测试专家论内置自测试

梁超; 时万春; 王玉卿

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虽然内置自测试(built-in-self-test简写为BIST)已探讨了近25年,但直到最近使用它的用户才有所增长。过去只有集成系统行业内的公司才觉得有使用BIST的必要,如AT&T和IBM等。现在小一些的公司,象Level One通讯和Stratus计算机公司也已决定采用BIST,而且从事EDA的公司也正着手引入BIST工具。现有的BIST能满足用户需求吗?有些什么样的解决方案?我们如何使用BIST工具?还希望BIST有什么新的应用?为了回答这些问题,设计与测试杂志于1997年在加州召开了设计自动化会议,邀请了一些工具开发人员、用户和科研人员出席。

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来源
《国外电子测量技术》 |1998年第3期|2-7|共6页
作者
梁超; 时万春; 王玉卿;
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作者单位

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类一般性问题;
关键词
电子测量; 内置自测试; BIST; 嵌入技术; 设计;

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