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数字电视解调芯片的可测试性设计与优化

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摘要

介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求.

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来源
《微电子学与计算机》 |2008年第8期|172-175|共4页
作者
林平分; 余会星;
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作者单位

北京工业大学嵌入式系统重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算机软件;
关键词
可测试性设计; 故障模型; 测试图形; 测试覆盖率;

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