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聚合物基电接触材料低压受流磨损性能研究

         

摘要

通过电磨损性能测试和扫描电子显微镜(SEM)测试等方法,对聚合物基电接触材料的低压受流磨损性能进行了研究,探讨了聚合物基电接触材料/铜的受流磨损机理。结果表明:PBMI/YM聚合物基电接触材料的受流耐磨性明显优于YM聚合物基电接触材料。研究发现,在环境温度为(25±2)℃时,在96 V电压下,通电3 600 s, YM聚合物基电接触材料的磨损率为3.47×10-4mm/s,而PBMI/YM聚合物基电接触材料为2.63×10-4mm/s。在受流磨损过程中,聚合物基电接触材料/铜的磨损机制主要是氧化磨损,同时伴随着粘着磨损、疲劳磨损和磨粒磨损。

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