置信区间与探测下限

李德平; 胡逢全

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置信区间与探测下限

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本文从探测下限（ＤＬ）和置信区间定义及其与统计检验的关系出发，分析了ＤＬ与置信区间的内在联系及不同性质和用法。强调了ＤＬ用于评述一种测量（包括仪器、方法和操作等）的检出能力，置信区间用于对测量结果的表达；对小于ＤＬ的结果，报小于上置信限（ＵＢ）是自然合理的（对一些不具有单一的ＤＬ的测量更是如此），而且比报小于ＤＬ的范围更窄（ＵＢ＜ＤＬ）。还强调了置信区间包含了统计检验的功能，但它比后者给出更多有用信息。文中还介绍了在方差随待测量水平变化情况及泊松分布、二项式分布中应用的一些技巧。文末还给出了一些有用的机算程序。

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来源
《辐射防护》 |1994年第4期|303-318|共16页
作者
李德平; 胡逢全;
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作者单位

中国辐射防护研究院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类辐射探测技术和仪器仪表;
关键词
置信区间; 探测下限; 统计检验; 程序;

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