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近红外显微分光测量仪USPM—RU—W

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日本奥林巴斯公司将推出近红外显微分光测量仪“USPM—RU—W”。其能够测量物质对从可见光区到近红外区（380nm～1050nm）广泛波长的光的反射率，并具有测定物体颜色和测量多层膜厚的功能。该分光测量仪可用于评估镜头等光学元件的涂层，

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来源
《军民两用技术与产品》 |2011年第8期|P.38-38|共1页
作者
无;
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作者单位

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类 O614.821;
关键词
光测量仪; 近红外区; RU; 微分; 奥林巴斯公司; 可见光区; 物体颜色; 光学元件;

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