用H/V谱比法与折射微动法确定表土层参数

张文辉; 金维浚; 张衡

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表土层参数对地震场地响应有重要影响,通过H/V谱比法和折射微动(REMI)方法确定场地表土层厚度和速度结构等有实际意义.REMI方法采用常规折射地震采集设备,利用自然震动作为源,通过地震波场τp变换和傅立叶变换,将地震记录从时空域变换到慢度-频率域提取频散曲线,不同于主动源面波勘探,被动源面波勘探能获得更大深度的土层结构.

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来源
《地震》 |2013年第4期|172-181|共10页
作者
张文辉; 金维浚; 张衡;
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作者单位

中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029;

中国科学院大学地球科学学院,北京100049;

中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029;

中国科学院地质与地球物理研究所,北京100029;

中国科学院大学地球科学学院,北京100049;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类地震学;
关键词
表土层参数; H/V谱比法; 折射微动(REMI)法; 面波反演;

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