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根据微放电现象的研究评价真空灭弧室触头材料的性能

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本文研究了真空灭弧室用CuCr25、CuCr50、WCu30烧结触头材料的真空间隙的绝缘性能。通过采用局部放电测量仪和多路分析仪，对预击穿阶段的典型现象──微放电现象进行了研究。结果表明，真空间隙的耐电压强度与微放电现象的特性参数之间具有非常密切的关系。

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来源
《电工材料》 |1999年第1期|39-42|共4页
作者
叶凡;
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作者单位

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正文语种 chi
中图分类 TM241.014;
关键词
真空灭弧室; 触头材料; 微放电现象; 真空间隙; 性能;

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