首页> 中文期刊> 《电工材料》 >真空断路器铜铬触头材料中铬含量对开断能力的影响

真空断路器铜铬触头材料中铬含量对开断能力的影响

         

摘要

我们研究了铜铬触头材料中铬含量从12.5%~75%(重量比)的范围内变化对电流开断能力以及电弧形态、阳极熔化时间和电流开断后的触头侵蚀的影响。结果表明,在上述的铬含量变化范围内,铬含量越低,电流开盼能力越高。当铬含量减少后,电弧聚集时间和电流开断后的阳极熔化时间都缩短,但是铜铬触头的侵蚀量变大。根据这一结果,可以看出真空断路器中铜铬触头材料中存在一个钻的最优含量。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号