首页> 中文期刊> 《电子设计工程》 >富士通半导体针对RAID应用的USB3.0-SATA控制芯片获得USB-IF合格证书

富士通半导体针对RAID应用的USB3.0-SATA控制芯片获得USB-IF合格证书

         

摘要

富士通半导体(上海)有限公司宣布USB3.0-SATA桥接芯片的另一位成员MB86E50系列已通过USB—IF(USB Implementer Forum)的兼容性测试,并获得USB3.0超速标准合格认证证书。加上先前的MB86C30与MB86C31两个系列产品.目前富士通半导体旗下共拥有3个系列合格的USB3.0-SATA桥接芯片。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号