复杂RF环境下的RFID测试挑战

Louise Parker

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复杂RF环境下的RFID测试挑战

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亚微米互补金属氧化物半导体(CMOS)的最新发展,可望进一步扩展RFID技术的应用.高精度供应链管理、无接触POS交易、防伪和资产追踪/监测技术所带来的各项优势,正推动着RFID技术的迅速普及.但是,这种新技术自身也面临着许多测试挑战.本文讨论复杂RFID工作环境中的测试挑战,包括多个阅读器、密集模式环境和预先存在的非RFID信号可能引起的吞吐量和通信问题.

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来源
《电子产品世界》 |2009年第6期|21-23,27|共4页
作者
Louise Parker;
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作者单位

泰克公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类真空电子技术;
关键词
RF; RFID; 测试; 工作环境;

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