高速自动测试设备的未来

益林

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高速自动测试设备的未来

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半导体业正在逐渐过渡到纳米制造工艺。纳米技术带来巨大的好处：几乎可以自由地增加晶体管数。另一方面，CMOS工艺已发生显著地变化，因此，纳米SOC出现新型的制造缺陷。第一个问题是在高频时会增加定时失效数。其他问题还包括串扰、时钟歪斜和同步、高速I／O参量失效，由于其模拟特性，它们对来自相邻数字芯核的注入噪声特别敏感。

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来源
《电子产品世界》 |2005年第2a期|P.101-103|共3页
作者
益林;
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作者单位

无;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类半导体技术;
关键词
自动测试设备; 纳米技术; 纳米制造缺陷; 电容串扰效应; 半导体;

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