以三维图像检查部件的光探测设备

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自动缺陷检查技术正在日益取代人们的视觉检查。对无缺陷部件的需求推动了检查工序的发展, 从只测量少量样品部件进展到对部件进行 100％全面检查,并用部件容差做为基准。几何部件缺陷的一般类型包括形变、与规格的偏差,或漏装的零件。为了有效地测量种种几何特性,检查系统必须是快速、精确和可靠——非接触式三维(3-D)光学测量系统必须满足的要求。光检查系统分为三种类型: 单点,单线和面测量系统。

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来源
《电子产品世界》 |1997年第5期|98-99|共2页
作者

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作者单位

无;

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正文语种 CHI
中图分类光学仪器;
关键词
光探测设备; 三维在线测量; 光学测量;

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