基于FPGA的存储内建自测试的研究

薛凯; 侯荣彬; 李勇

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基于FPGA的存储内建自测试的研究

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本文以SRAM为研究对象,介绍了储存器中常见的几种故障类型以及测试方法.March算法能够对各种储存器常见故障进行检测,但有些故障(比如耦合故障中的字内故障和字间故障)是检测不出来的.通过对现有测试算法的优化,使储存器测试的故障覆盖率更高,并采用硬件描述语言,以FPGA为开发平台,以储存器内建自测试(Memory Build-In Self-Test,MBIST)的方式构建SRAM测试电路,并进行仿真验证.

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来源
《仪器仪表用户》 |2021年第6期|53-57|共5页
作者
薛凯; 侯荣彬; 李勇;
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作者单位

中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室成都 610213;

中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室成都 610213;

中国核动力研究设计院核反应堆系统设计技术重点实验室成都 610213;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动控制、自动控制系统;
关键词
硬件描述语言; March; SRAM; MBIST; FPGA;

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