GaAs器件寿命试验结温测试方法研究

洪潇; 芦忠; 来萍

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在GaAs器件寿命试验中,器件的性能参数退化与结温密切相关.对于如何确定结温问题进行了研究,介绍了热阻的定义以及目前热阻测试中常用的方法.针对GaAs器件长期使用中出现的参数漂移、输出功率下降等问题,试验设计了4种相关的单机理评价结构,并使用电参数测试法确定出GaAs加速寿命试验中最合适的环境温度.

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2012年第z1期|118-121|共4页
作者
洪潇; 芦忠; 来萍;
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作者单位

工业和信息化部电子第五研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类场效应器件;测试和检验;
关键词
砷化镓器件; 热阻测试; 结温;

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