宇航用进口低等级芯片制样评价结果判定研究

著录项

• 来源
  《电子产品可靠性与环境试验》 |2018年第1期|27-33|共7页
• 作者

  韩宝妮; 文平; 董作典; 华熙; 冯鹤; 宋燕;

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• 作者单位

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

  西安空间无线电技术研究所, 陕西 西安 710100;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 可靠性及例行试验;电气设备;
• 关键词

  宇航用; 低等级芯片; 评价; 结果判定;