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电离总剂量辐照试验流程阐述

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摘要

空间辐射环境是影响航天电子设备长期稳定运行的重要因素，是当前航天电子技术研究的重点。针对目前国内主要的电离总剂量辐照试验标准。阐述TMOS的辐照试验流程，并对其中包含的机理进行了详细的分析；同时，对试验方法中有关偏置条件、辐照后测试时间的规定等内容进行了详细的分析。

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来源
《电子产品可靠性与环境试验》 |2012年第B05期|P.163-166|共4页
作者
王文双; 费武雄;
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作者单位

工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610;

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正文语种 CHI
中图分类金属-氧化物-半导体（MOS）器件;
关键词
电离总剂量; 金属-氧化物-半导体器件; 辐照流程; 偏置条件;

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