微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型

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• 来源
  《电子产品可靠性与环境试验》 |2004年第4期|8-11|共4页
• 作者

  李志国; 李杰; 郭春生; 程尧海;

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• 作者单位

  北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;

  北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;

  北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;

  北京工业大学电子信息与控制工程学院,北京,100022;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 可靠性及例行试验;
• 关键词

  微电子器件; 失效机理; 快速评价;