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王香芬; 邢润家;
北京航空航天大学可靠性与系统工程学院 北京 100191;
光电耦合器; 微观缺陷; 失效分析; 失效模式; 失效机理; 键合点; 钝化层; 制造缺陷;
机译:3D灌浆剪切失效存在下灌浆锚固总体拉出行为的分析研究
机译:通过离散元件法将微裂纹引发和晶体结构与微观缺陷在微观缺陷下的传播
机译:分离光电耦合器的LED和光电晶体管中质子损伤的方法
机译:复合拉出标本中失效和失效进展的实验和分析研究
机译:高速集成-瞬态射频和微波信号(光电,激光,光电探测器,方向耦合器)的光学采样器。
机译:基于低压和快速响应的钙钛矿复合光电探测器的高性能有机-无机钙钛矿光电耦合器
机译:用于可靠性筛选的光电耦合器件的噪声测量:是否存在最佳阈值?
机译:飞兆半导体栅极驱动光电耦合器,FOD3150型,宽温工作评估
机译:用于确定试样上是否存在宏观和微观缺陷的方法和系统
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