首页> 中文期刊> 《今日电子》 >汽车级MCU的鉴定方法

汽车级MCU的鉴定方法

         

摘要

美国国会去年证明,汽车设备制造商协会引用的研究结果估计,全世界范围内由于伪造汽车元件导致行业年收入损失达到450亿美元。经济损失仅仅是原始设备制造商和售后汽车供应链伪造产品的诸多问题之一;这还带来了汽车完整性和安全性等潜在风险。随着基于电子元件使用量的增加,这些风险得以放大。幸运的是,一些电子系统能够胜任对于风险的控制。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号