全新参数分析仪降低特性分析复杂度

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全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪，通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度，简化测试设置，提供清楚精确的结果，加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功，在此基础上，新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计，拥有全新图形用户界面及多种自学工具，如仪器内嵌的专家指导视频。

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来源
《今日电子》 |2016年第12期|68-68|共1页
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正文语种 chi
中图分类结构、器件;
关键词
分析仪; 复杂度; 特性; 图形用户界面; 现代工业设计; 半导体器件; S参数; 洞察力;

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