首页> 中文期刊> 《今日电子》 >适用于射频芯片组测试的PXle高速数字激励/响应模块

适用于射频芯片组测试的PXle高速数字激励/响应模块

         

摘要

16通道PXIe高速数字激励/响应模块包含参数测量单元(PMU),可以为测试工程师提供快速而灵活的射频:卷片组测试仿真和器件表征功能,帮助他们完成设计验证和生产测试任务。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号